納米粒度儀是基于Fraunhofer衍射和Mie氏散射理論，根據激光照射到顆粒后，顆粒能使激光產生衍射或散射的現象來測試粒度分布的。因此相應的激光粒度分析儀分為激光衍射式和激光動態散射式兩類。一般衍射式粒度儀適于對粒度在5μm以上的樣品分析，而動態激光散射儀則對粒度在5μm以下的納米、亞微米顆粒樣品分析較為準確。所以納米粒子的測量一般采用動態激光散射儀。

 

　　在動態光散射法粒徑測量中，樣品濃度需要在一定的適宜范圍內，若濃度過低，測量結果容易收到雜質等因素的影響，測量重復性差；若樣品濃度過高，顆粒間相互作用及多重光散射則會嚴重影響測量結果。優點是：樣品用量少、自動化程度高、重復性好, 可在線分析等。

 

　　納米粒度儀性能特點：

　　測試原理：采用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中的布朗運動的速度測定顆粒大小。小顆粒布朗運動速度快，大顆粒布朗運動速度慢，激光照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發生快慢不同的漲落起伏。光子相關光譜法就根據特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。

　　先進的算法：采用除符合GB/T19627-2005/IS013321：1996標準的累積法外，還有R-R算法，可以算出納米粒子樣品的D50、D10及D90，并給出分布曲線。

　　高靈敏度與信噪比：探測器采用專業級進口光電倍增管（PMT），對光子信號具有較高的靈敏度和信噪。

　　穩定的光路系統：采用635nmLD激光光源和光纖技術搭建而成的光路系統，升降臺式樣品池送進定位及環境光遮蔽系統，使光子相關譜探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力。

　　高精度的測試溫度控制系統：獨立的循環溫控槽可在2-95℃范圍內任意設定，其控制精度達0.1℃。